Texas Instruments представила новые чипы, которые обеспечивают диагностику состояния батарей для повышения безопасности аккумуляторных систем. Эти чипы интегрируют электрохимическую импедансную спектроскопию (EIS), что позволяет активно контролировать здоровье ячеек, в отличие от традиционных систем, которые лишь пассивно отслеживают напряжение.
Системы управления батареями (BMS) традиционно используют подход, основанный на сравнении напряжений с эталонными значениями, что может приводить к значительным погрешностям. Для литий-железо-фосфатных (LFP) аккумуляторов, которые становятся все более популярными, такой метод уже не является достаточным для обеспечения необходимого уровня безопасности.
Внедрение новых технологий, таких как EIS, может привести к значительным улучшениям в области безопасности и надежности аккумуляторных систем. Это особенно важно для растущего рынка стационарных систем хранения энергии, где требования к безопасности постоянно возрастают.